WLP-216平均粒度儀是用于測量顆粒物質(zhì)平均粒度的儀器創新能力。它通過測量顆粒的尺寸分布能運用，從而計算出顆粒的平均粒度利用好。這種儀器在許多領(lǐng)域都有廣泛的應(yīng)用，如材料科學(xué)講理論、化學(xué)工程有望、環(huán)境科學(xué)等。我們需要了解什么是粒度提供深度撮合服務。粒度是指顆粒的大小深刻內涵，通常用直徑來表示。顆磷顬橥怀?？梢允枪腆w逐步改善、液體或氣體，它們可以是球形、非球形或其他形狀落實落細。在實(shí)際應(yīng)用中，我們通常關(guān)心的是顆粒群的平均粒度事關全面，而不是單個顆粒的粒度交流等。因此製造業，我們需要一種方法來測量顆粒群的粒度分布發展目標奮鬥，從而計算出平均粒度。
 

　　WLP-216平均粒度儀的工作原理主要基于以下幾種方法：
 

　　1.篩分法：這是一種簡單狀態、直接的方法規劃，適用于較大的顆粒。將顆粒樣品放入一系列不同孔徑的篩子中更多的合作機會，然后進(jìn)行振動或敲擊應用前景，使顆粒按照大小分離。通過測量每個篩子中顆粒的質(zhì)量，可以得到顆粒的粒度分布兩個角度入手，從而計算出平均粒度關註點。這種方法的優(yōu)點(diǎn)是簡單、快速進入當下，但缺點(diǎn)是只能測量較大顆粒建強保護，且對于非球形顆粒的準(zhǔn)確性較低。
 

　　2.沉降法：這種方法是基于斯托克斯定律首次，即顆粒在流體中的沉降速度與其直徑成正比流動性。將顆粒樣品放入一個充滿流體的容器中，然后測量顆粒沉降到底部所需的時間生產效率。通過測量不同時間點(diǎn)的顆粒質(zhì)量反應能力，可以得到顆粒的粒度分布，從而計算出平均粒度競爭激烈。這種方法的優(yōu)點(diǎn)是準(zhǔn)確性較高投入力度，但缺點(diǎn)是需要較長的時間，且對于較小顆粒的準(zhǔn)確性較低越來越重要。
 

　　3.激光散射法：這種方法是基于光的散射原理穩中求進，即當(dāng)光線照射到顆粒上時，會發(fā)生散射現(xiàn)象不折不扣，散射光的角度與顆粒的直徑有關(guān)再獲。將顆粒樣品放入一個透明的容器中，然后用激光照射最深厚的底氣，通過檢測散射光的角度敢於挑戰，可以得到顆粒的粒度分布，從而計算出平均粒度應用擴展。這種方法的優(yōu)點(diǎn)是準(zhǔn)確性高過程中，速度快，但缺點(diǎn)是設(shè)備成本較高建立和完善。
 

　　4.顯微鏡法：這種方法是通過直接觀察顆粒的形狀和大小來計算粒度特征更加明顯。將顆粒樣品放在顯微鏡下，然后通過圖像處理技術(shù)測量顆粒的尺寸啟用。這種方法的優(yōu)點(diǎn)是可以直接觀察到顆粒的形狀，但缺點(diǎn)是操作復(fù)雜，速度較慢活動上。