WLP-216平均粒度儀是用于測量顆粒物質(zhì)平均粒度的儀器成就，其工作原理主要基于篩分法初步建立、沉降法、激光散射法和顯微鏡法等方法相對開放。這些方法各有優(yōu)缺點重要方式，需要根據(jù)實際需求選擇合適的方法。隨著科學技術(shù)的發(fā)展相貫通，其性能將不斷提高增產，為各個領域的研究和應用提供更準確、更便捷的服務系統。
 

　　WLP-216平均粒度儀在結(jié)構(gòu)上的特點主要體現(xiàn)在其簡單性和高效性的方法。這種儀器利用空氣透過法或激光散射原理來測量粉末的平均粒徑，具有高精度和良好的重復性：
 

　　-采用MIE散射原理重要的作用，結(jié)合傅立葉變換光路和無約束自由擬合的數(shù)據(jù)處理軟件資料，能夠檢測顆粒大小及分布。
 

　　-利用多角度散射技術(shù)和原位測量技術(shù)進行操作重要的意義，提高測量的準確性和效率集成。
 

　　-儀器結(jié)構(gòu)簡單，操作方便關註度，由于不受材料結(jié)團對測量的影響，測試的粒度重復性非常好。
 

　　-早期型號如WLP-202經(jīng)改進升級為WLP-208穩中求進，增加了壓力校正器橫向協同，提高了測量的精度和穩(wěn)定性不折不扣。
 

　　-根據(jù)不同的測試要求，分散系統(tǒng)分為濕法分散系統(tǒng)穩定性、干法分散系統(tǒng)和干濕一體分散系統(tǒng)最深厚的底氣，以適應不同的樣品類型。
 

　　-測量范圍廣泛資源優勢，覆蓋了毫米應用擴展、微米、亞微米及納米多個波段振奮起來，能夠滿足不同領域的需求建立和完善。
 

　　-自1978年投產(chǎn)以來，由于其穩(wěn)定的性能和較低的造價長足發展，被廣泛應用于各種材料的粒度測量紮實做。
 

　　-新款粒度儀無需預熱，開機即可測試規模設備，而老式粒度儀需開機預熱15-20分鐘支撐作用，提高了使用便捷性。
 

　　-通過觀測光強度并應用Fraunhofer衍射理論和Mie散射理論至關重要，能夠準確計算出粒子徑分布認為。
 

　　-簡單的結(jié)構(gòu)設計使得日常維護和故障排除變得更加容易，降低了長期運營成本效率。